22-05-2019, 13:11
Witam!
Konsekwentnie dopiąłeś swojego cel - zazdroszcząc osiagniętego wyniku gratuluje! ;-)
Jak możesz zdradzić trochę ze swojego warsztatu to proszę potwierdź lub sprostuj moje naiwne wybrażenia co do zastosowanej procedury pomiaru i algorytmów.
Zasymulowałem sobie użyte przez Ciebie filtry dolnoprzepustowe i faktycznie, mam niemal identyczne wyniki jak podałeś więc domyślam się, dodatkowo z podanego wcześniej wykresu fft, że pomiar ma charakter homodynowy z częstotliwością przemiany ok. 11kHz?. Jeśli tak to dlaczego ta czestotliwość a nie niższa?
A więc zakładając, że mam rację co do tych 11kHz, w zakresie podstawowym LO oraz CLK generowane są w tej samej pętli PLL (zgodność fazy) z przesunięciem właśnie ok. 11kHz ale dla pomiarów powyżej 225MHz musiałeś zmniejszyć odstęp częstotliwości do ok. 3.7kHz?
Moduł impedancji wyznaczasz na podstawie pomiarów w kanale podstawowym (pomiar skalarny) a kanał referencyjny służy do jednoznacznego wyznaczenia fazy mierzonej impedancji ?
Mając dane w dziedzinie częstotliwości (po fft) stosujesz eliminację progową śmieci o poziomie niższym niż trzecia harmoniczna?
Mówiąc o 2048 próbek masz na myśli taką ich ilość dla jednego okresu mierzonego sygnału?
Jak masz inne ciekawostki dotyczące obróbki danych z pomiaru to chętnie ich wysłucham - zawsze warto uczyć się od lepszych ;-)
Mi chodzi po głowie zastosowanie zaawansowanej obróbki sygnałów do pomiarów bez wspomagania się PC co oznacza implementację fft w chip-ie ale na razie jestem na etapie rozpoznawania tematu :-(
L.J.
Konsekwentnie dopiąłeś swojego cel - zazdroszcząc osiagniętego wyniku gratuluje! ;-)
Jak możesz zdradzić trochę ze swojego warsztatu to proszę potwierdź lub sprostuj moje naiwne wybrażenia co do zastosowanej procedury pomiaru i algorytmów.
Zasymulowałem sobie użyte przez Ciebie filtry dolnoprzepustowe i faktycznie, mam niemal identyczne wyniki jak podałeś więc domyślam się, dodatkowo z podanego wcześniej wykresu fft, że pomiar ma charakter homodynowy z częstotliwością przemiany ok. 11kHz?. Jeśli tak to dlaczego ta czestotliwość a nie niższa?
A więc zakładając, że mam rację co do tych 11kHz, w zakresie podstawowym LO oraz CLK generowane są w tej samej pętli PLL (zgodność fazy) z przesunięciem właśnie ok. 11kHz ale dla pomiarów powyżej 225MHz musiałeś zmniejszyć odstęp częstotliwości do ok. 3.7kHz?
Moduł impedancji wyznaczasz na podstawie pomiarów w kanale podstawowym (pomiar skalarny) a kanał referencyjny służy do jednoznacznego wyznaczenia fazy mierzonej impedancji ?
Mając dane w dziedzinie częstotliwości (po fft) stosujesz eliminację progową śmieci o poziomie niższym niż trzecia harmoniczna?
Mówiąc o 2048 próbek masz na myśli taką ich ilość dla jednego okresu mierzonego sygnału?
Jak masz inne ciekawostki dotyczące obróbki danych z pomiaru to chętnie ich wysłucham - zawsze warto uczyć się od lepszych ;-)
Mi chodzi po głowie zastosowanie zaawansowanej obróbki sygnałów do pomiarów bez wspomagania się PC co oznacza implementację fft w chip-ie ale na razie jestem na etapie rozpoznawania tematu :-(
L.J.